Topological line defects in hexagonal SiC monolayer.
Phys Chem Chem Phys
; 25(48): 33048-33055, 2023 Dec 13.
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em En
| MEDLINE
| ID: mdl-38037394
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
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MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Phys Chem Chem Phys
Assunto da revista:
BIOFISICA
/
QUIMICA
Ano de publicação:
2023
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Brasil
País de publicação:
Reino Unido