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Optimized EWT-Seq2Seq-LSTM with Attention Mechanism to Insulators Fault Prediction.
Klaar, Anne Carolina Rodrigues; Stefenon, Stefano Frizzo; Seman, Laio Oriel; Mariani, Viviana Cocco; Coelho, Leandro Dos Santos.
Afiliação
  • Klaar ACR; Graduate Program in Education, University of Planalto Catarinense, Lages 88509-900, Brazil.
  • Stefenon SF; Digital Industry Center, Fondazione Bruno Kessler, 38123 Trento, Italy.
  • Seman LO; Department of Mathematics, Computer Science and Physics, University of Udine, 33100 Udine, Italy.
  • Mariani VC; Department of Electrical Engineering, Federal University of Parana, Curitiba 81530-000, Brazil.
  • Coelho LDS; Graduate Program in Applied Computer Science, University of Vale do Itajai, Itajai 88302-901, Brazil.
Sensors (Basel) ; 23(6)2023 Mar 17.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-36991913

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies / Risk_factors_studies Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil País de publicação: Suíça

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies / Risk_factors_studies Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil País de publicação: Suíça