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Electrical impedance tomography reconstruction through simulated annealing with total least square error as objective function.
Martins, Thiago de Castro; Tsuzuki, Marcos de Sales Guerra.
Afiliação
  • Martins Tde C; Computational Geometry Laboratory, Escola Politécnica, São Paulo University, Brazil. thiago@usp.br
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23366191

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Processamento de Imagem Assistida por Computador / Tomografia / Impedância Elétrica Idioma: En Revista: Annu Int Conf IEEE Eng Med Biol Soc Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil País de publicação: Estados Unidos

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Processamento de Imagem Assistida por Computador / Tomografia / Impedância Elétrica Idioma: En Revista: Annu Int Conf IEEE Eng Med Biol Soc Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil País de publicação: Estados Unidos