Electrical impedance tomography reconstruction through simulated annealing with total least square error as objective function.
Annu Int Conf IEEE Eng Med Biol Soc
; 2012: 1518-21, 2012.
Article
em En
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| ID: mdl-23366191
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
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MEDLINE
Assunto principal:
Processamento de Imagem Assistida por Computador
/
Tomografia
/
Impedância Elétrica
Idioma:
En
Revista:
Annu Int Conf IEEE Eng Med Biol Soc
Ano de publicação:
2012
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Brasil
País de publicação:
Estados Unidos