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Raman study of ion-induced defects in N-layer graphene.
Jorio, Ado; Lucchese, Marcia M; Stavale, Fernando; Ferreira, Erlon H Martins; Moutinho, Marcus V O; Capaz, Rodrigo B; Achete, Carlos A.
Afiliação
  • Jorio A; Departamento de Física, Universidade Federal de Minas Gerais, Belo Horizonte, MG, 30123-970, Brazil. adojorio@fisica.ufmg.br
J Phys Condens Matter ; 22(33): 334204, 2010 Aug 25.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21386494
Raman scattering is used to study the effect of low energy (90 eV) Ar(+) ion bombardment in graphene samples as a function of the number of layers N. The evolution of the intensity ratio between the G band (1585 cm(-1)) and the disorder-induced D band (1345 cm(-1)) with ion fluence is determined for mono-, bi-, tri- and ∼50-layer graphene samples, providing a spectroscopy-based method to study the penetration of these low energy Ar(+) ions in AB Bernal stacked graphite, and how they affect the graphene sheets. The results clearly depend on the number of layers. We also analyze the evolution of the overall integrated Raman intensity and the integrated intensity for disorder-induced versus Raman-allowed peaks.
Assuntos

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Análise Espectral Raman / Nanoestruturas / Grafite / Modelos Químicos Idioma: En Revista: J Phys Condens Matter Assunto da revista: BIOFISICA Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil País de publicação: Reino Unido

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Análise Espectral Raman / Nanoestruturas / Grafite / Modelos Químicos Idioma: En Revista: J Phys Condens Matter Assunto da revista: BIOFISICA Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil País de publicação: Reino Unido