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Structure and growth of vapor-deposited n-dotriacontane films studied by X-ray reflectivity.
del Campo, Valeria; Cisternas, Edgardo; Taub, Haskell; Vergara, Ignacio; Corrales, Tomás; Soza, Pamela; Volkmann, Ulrich G; Bai, Mengjun; Wang, Siao-Kwan; Hansen, Flemming Y; Mo, Haiding; Ehrlich, Steven N.
Afiliação
  • del Campo V; Facultad de Física, Pontificia Universidad Católica de Chile, Santiago 22, Chile.
Langmuir ; 25(22): 12962-7, 2009 Nov 17.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19583228

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Langmuir Assunto da revista: QUIMICA Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Chile País de publicação: Estados Unidos

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Langmuir Assunto da revista: QUIMICA Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article País de afiliação: Chile País de publicação: Estados Unidos