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Interferometric monitoring of dip coating.
Michels, Alexandre F; Menegotto, Thiago; Horowitz, Flavio.
Afiliação
  • Michels AF; Instituto de Física and Programa de Pós-Graduação em Ciências dos Materiais, Universidade Federal do Rio Grande do Sul, Campus do Vale CP15051, 91501-970 Porto Alegre, RS, Brazil.
Appl Opt ; 43(4): 820-3, 2004 Feb 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-14960076
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Ano de publicação: 2004 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil País de publicação: Estados Unidos
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