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Interfacial roughness and related growth mechanisms in sputtered W/Si multilayers.
Salditt T; Lott D; Metzger TH; Peisl J; Vignaud G; Hoghoj P; Schärpf O; Hinze P; Lauer R.
Phys Rev B Condens Matter ; 54(8): 5860-5872, 1996 Aug 15.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-9986552
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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev B Condens Matter Año: 1996 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos
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