Internal calibration technique for HREM studies of nanoscale particles. | Microsc Res Tech;25(2): 185-6, 1993 Jun 01. | MEDLINE

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Internal calibration technique for HREM studies of nanoscale particles.

Schryvers, D; Goessens, C; Safran, G; Toth, L.

Afiliación

Schryvers D; University of Antwerp, RUCA, Belgium.

Microsc Res Tech ; 25(2): 185-6, 1993 Jun 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-8518490

Asunto(s)

Microscopía Electrónica/normas; Calibración; Sistema Métrico; Plata

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía Electrónica Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Microsc Res Tech Asunto de la revista: DIAGNOSTICO POR IMAGEM Año: 1993 Tipo del documento: Article País de afiliación: Bélgica Pais de publicación: Estados Unidos

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