A Micro-Topography Measurement and Compensation Method for the Key Component Surface Based on White-Light Interferometry.
Sensors (Basel)
; 23(19)2023 Oct 08.
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| ID: mdl-37837137
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Sensors (Basel)
Año:
2023
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
China
Pais de publicación:
Suiza