Automatic and Quantitative Measurement of Spectrometer Aberrations.

Guo, Yueming; Lupini, Andrew R

Guo, Yueming; Lupini, Andrew R.

Afiliación

Guo Y; Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, P.O. Box 2008, Oak Ridge, TN 37831, USA.
Lupini AR; Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, P.O. Box 2008, Oak Ridge, TN 37831, USA.

Microsc Microanal ; 29(5): 1671-1681, 2023 Sep 29.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37670369

Palabras clave

aberration measurement; automation in experiment; electron optics; monochromated EELS; simulation of spectrometer aberrations; spectrometer aberrations

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Reino Unido

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