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TEM Study on Epitaxial BiFeO3 Film under Biaxial Tensile Strain.
Bae, In-Tae; Lingley, Zachary; Foran, Brendan; Adams, Paul; Paik, Hanjong.
Afiliación
  • Bae IT; The Aerospace Corporation, Los Angeles, CA, USA.
  • Lingley Z; The Aerospace Corporation, Los Angeles, CA, USA.
  • Foran B; The Aerospace Corporation, Los Angeles, CA, USA.
  • Adams P; The Aerospace Corporation, Los Angeles, CA, USA.
  • Paik H; School of Electrical and Computer Engineering, University of Oklahoma, Norman, OK, USA.
Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 1684-1685, 2023 Jul 22.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37613795
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Reino Unido
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