Extreme Value Theory Applications to Space Radiation Damage Assessment in Satellite Microelectronics. | J Res Natl Inst Stand Technol;99(4): 485-494, 1994. | MEDLINE

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Extreme Value Theory Applications to Space Radiation Damage Assessment in Satellite Microelectronics.

Marshall, P W; Dale, C J; Burke, E A.

Afiliación

Marshall PW; Naval Research Laboratory, Washington, DC 20375 and SFA, Inc., Landover, MD 20785.
Dale CJ; SFA, Inc., Landover, MD 20785.
Burke EA; Woburn, MA 01801.

J Res Natl Inst Stand Technol ; 99(4): 485-494, 1994.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37405298

Palabras clave

charge coupled devices; charge injection devices; displacement damage; extreme value statistics; microdosimetry; satellite imagery; satellite microelectronics

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Res Natl Inst Stand Technol Año: 1994 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos

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