Spectral X-ray dark-field signal characterization from dual-energy projection phase-stepping data with a Talbot-Lau interferometer.
Sci Rep
; 13(1): 767, 2023 Jan 14.
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| ID: mdl-36641492
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Sci Rep
Año:
2023
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Alemania
Pais de publicación:
Reino Unido