The effect of work function during electron spectroscopy measurements in Scanning Field-Emission Microscopy.
Ultramicroscopy
; 238: 113547, 2022 Aug.
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| ID: mdl-35545000
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Ultramicroscopy
Año:
2022
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Países Bajos