Topography inversion in scanning tunneling microscopy of single-atom-thick materials from penetrating substrate states. | Sci Rep;12(1): 7321, 2022 May 05. | MEDLINE

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Topography inversion in scanning tunneling microscopy of single-atom-thick materials from penetrating substrate states.

Park, Changwon; Yoon, Mina.

Afiliación

Park C; School of Computational Sciences, Korea Institute for Advanced Study, Hoegiro 85, Seoul, 02455, Republic of Korea. cwparksnu@gmail.com.
Yoon M; Materials Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN, 37831, USA. myoon@ornl.gov.

Sci Rep ; 12(1): 7321, 2022 May 05.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-35513468

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Sci Rep Año: 2022 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Reino Unido

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