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Estimation of the Young's Modulus of Nanometer-Thick Films Using Residual Stress-Driven Bilayer Cantilevers.
Velosa-Moncada, Luis A; Raskin, Jean-Pierre; Aguilera-Cortés, Luz Antonio; López-Huerta, Francisco; Herrera-May, Agustín L.
Afiliación
  • Velosa-Moncada LA; Micro and Nanotechnology Research Center, Universidad Veracruzana, Boca del Rio 94294, Mexico.
  • Raskin JP; Institute of Information and Communication Technologies, Electronics and Applied Mathematics (ICTEAM), Université Catholique de Louvain (UCL), 1348 Louvain-la-Neuve, Belgium.
  • Aguilera-Cortés LA; Departamento de Ingeniería Mecánica, DICIS, Universidad de Guanajuato, Salamanca 36885, Mexico.
  • López-Huerta F; Facultad de Ingeniería Eléctrica y Electrónica, Universidad Veracruzana, Boca del Rio 94294, Mexico.
  • Herrera-May AL; Micro and Nanotechnology Research Center, Universidad Veracruzana, Boca del Rio 94294, Mexico.
Nanomaterials (Basel) ; 12(2)2022 Jan 14.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-35055286
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nanomaterials (Basel) Año: 2022 Tipo del documento: Article País de afiliación: México Pais de publicación: Suiza
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