A Consistent Model for Short-Term Instability and Long-Term Retention in Filamentary Oxide-Based Memristive Devices.

Kopperberg, Nils; Wiefels, Stefan; Liberda, Sergej; Waser, Rainer; Menzel, Stephan

Kopperberg, Nils; Wiefels, Stefan; Liberda, Sergej; Waser, Rainer; Menzel, Stephan.

Afiliación

Kopperberg N; Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik II (IWE2) and JARA-FIT, RWTH Aachen University, Aachen 52074, Germany.
Wiefels S; Peter-Grünberg-Institut 7 (PGI-7), Forschungszentrum Jülich GmbH, Jülich 52425, Germany.
Liberda S; Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik II (IWE2) and JARA-FIT, RWTH Aachen University, Aachen 52074, Germany.
Waser R; Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik II (IWE2) and JARA-FIT, RWTH Aachen University, Aachen 52074, Germany.
Menzel S; Peter-Grünberg-Institut 7 (PGI-7), Forschungszentrum Jülich GmbH, Jülich 52425, Germany.

ACS Appl Mater Interfaces ; 13(48): 58066-58075, 2021 Dec 08.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34808060

Palabras clave

HfO2; ReRAM; instability; kinetic Monte Carlo; oxygen vacancy; retention; simulation; valence change memory

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Appl Mater Interfaces Asunto de la revista: BIOTECNOLOGIA / ENGENHARIA BIOMEDICA Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Estados Unidos

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