Sample Preparation by 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling for High-Resolution Cryo-Electron Tomography.

Bieber, Anna; Capitanio, Cristina; Wilfling, Florian; Plitzko, Jürgen; Erdmann, Philipp S

Bieber, Anna; Capitanio, Cristina; Wilfling, Florian; Plitzko, Jürgen; Erdmann, Philipp S.

Afiliación

Bieber A; Max Planck Institute of Biochemistry.
Capitanio C; Max Planck Institute of Biochemistry.
Wilfling F; Max Planck Institute of Biochemistry; Max Planck Institute for Biophysics.
Plitzko J; Max Planck Institute of Biochemistry; plitzko@biochem.mpg.de.
Erdmann PS; Max Planck Institute of Biochemistry; Fondazione Human Technopole; philipp.erdmann@fht.org.

J Vis Exp ; (176)2021 10 25.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34747397

Asunto(s)

Tomografía con Microscopio Electrónico; Electrones; Microscopía por Crioelectrón/métodos; Tomografía con Microscopio Electrónico/métodos; Microscopía Electrónica de Transmisión; Manejo de Especímenes/métodos

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Electrones / Tomografía con Microscopio Electrónico Idioma: En Revista: J Vis Exp Año: 2021 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos

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