Determination of the composition and thickness of chromel and alumel thin films on different substrates by quantitative energy dispersive spectroscopy analysis.

Lima de Oblitas, Raissa; de Sá Teixeira, Fernanda; Salvadori, Maria Cecília

Lima de Oblitas, Raissa; de Sá Teixeira, Fernanda; Salvadori, Maria Cecília.

Afiliación

Lima de Oblitas R; Instituto de Física, Universidade de São Paulo, São Paulo, Brazil.
de Sá Teixeira F; Instituto de Física, Universidade de São Paulo, São Paulo, Brazil.
Salvadori MC; Instituto de Física, Universidade de São Paulo, São Paulo, Brazil.

Microsc Res Tech ; 85(2): 437-446, 2022 Feb.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34435712

Palabras clave

alumel; chromel; energy dispersive spectroscopy; quantitative microanalysis; thin films

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Res Tech Asunto de la revista: DIAGNOSTICO POR IMAGEM Año: 2022 Tipo del documento: Article País de afiliación: Brasil Pais de publicación: Estados Unidos

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google