Toward Unusual-High Hole Mobility of p-Channel Field-Effect-Transistors.
Small
; 17(37): e2102323, 2021 Sep.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-34288454
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Small
Asunto de la revista:
ENGENHARIA BIOMEDICA
Año:
2021
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Alemania