Novel Method for High-Spatial-Resolution Chemical Analysis of Buried Polymer-Metal Interface: Atomic Force Microscopy-Infrared (AFM-IR) Spectroscopy with Low-Angle Microtomy. | Appl Spectrosc;75(7): 901-910, 2021 Jul. | MEDLINE

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Novel Method for High-Spatial-Resolution Chemical Analysis of Buried Polymer-Metal Interface: Atomic Force Microscopy-Infrared (AFM-IR) Spectroscopy with Low-Angle Microtomy.

Baden, Naoki.

Afiliación

Baden N; Nihon Thermal Consulting, Co., Ltd., 1-5-11 Nishishinjuku, Sinjuku-ku, Tokyo 160-0023, Japan.

Appl Spectrosc ; 75(7): 901-910, 2021 Jul.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-33739171

Palabras clave

AFM-IR; Atomic force microscopy-based infrared spectroscopy; chemical analysis; depth profile; gradient shaving; interphase; low-angle microtomy; nanoscale; polymer-metal interface

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Spectrosc Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón Pais de publicación: Estados Unidos

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