BPF-Based Thermal Sensor Circuit for On-Chip Testing of RF Circuits.

Altet, Josep; Barajas, Enrique; Mateo, Diego; Billong, Alexandre; Aragones, Xavier; Perpiñà, Xavier; Reverter, Ferran

Altet, Josep; Barajas, Enrique; Mateo, Diego; Billong, Alexandre; Aragones, Xavier; Perpiñà, Xavier; Reverter, Ferran.

Afiliación

Altet J; Electronic Engineering Department, Universitat Politècnica de Catalunya-BarcelonaTech, 08034 Barcelona, Spain.
Barajas E; Electronic Engineering Department, Universitat Politècnica de Catalunya-BarcelonaTech, 08034 Barcelona, Spain.
Mateo D; Electronic Engineering Department, Universitat Politècnica de Catalunya-BarcelonaTech, 08034 Barcelona, Spain.
Billong A; Electronic Engineering Department, Universitat Politècnica de Catalunya-BarcelonaTech, 08034 Barcelona, Spain.
Aragones X; Electronic Engineering Department, Universitat Politècnica de Catalunya-BarcelonaTech, 08034 Barcelona, Spain.
Perpiñà X; Institute of Microelectronics of Barcelona (IMB-CNM)-CSIC, 08193 Cerdanyola del Vallés, Spain.
Reverter F; Electronic Engineering Department, Universitat Politècnica de Catalunya-BarcelonaTech, 08034 Barcelona, Spain.

Sensors (Basel) ; 21(3)2021 Jan 26.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-33530334

Palabras clave

CMOS built-in sensor; CMOS integrated circuits; CMOS thermal sensor; built-in test and measurement; measurement of RF CMOS circuits

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: España Pais de publicación: Suiza

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