Investigation on reliability of red micro-light emitting diodes with atomic layer deposition passivation layers.
Opt Express
; 28(25): 38184-38195, 2020 Dec 07.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-33379636
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Opt Express
Asunto de la revista:
OFTALMOLOGIA
Año:
2020
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos