Stochastic excitation for high-resolution atomic force acoustic microscopy imaging: a system theory approach.
Beilstein J Nanotechnol
; 11: 703-716, 2020.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-32461872
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Qualitative_research
Idioma:
En
Revista:
Beilstein J Nanotechnol
Año:
2020
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Alemania