Development of a scanning soft X-ray spectromicroscope to investigate local electronic structures on surfaces and interfaces of advanced materials under conditions ranging from low vacuum to helium atmosphere.
J Synchrotron Radiat
; 27(Pt 3): 664-674, 2020 May 01.
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| ID: mdl-32381766
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
J Synchrotron Radiat
Asunto de la revista:
RADIOLOGIA
Año:
2020
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Japón
Pais de publicación:
Estados Unidos