Imaging low-dimensional nanostructures by very low voltage scanning electron microscopy: ultra-shallow topography and depth-tunable material contrast. | Sci Rep;9(1): 16263, 2019 Nov 07. | MEDLINE

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Imaging low-dimensional nanostructures by very low voltage scanning electron microscopy: ultra-shallow topography and depth-tunable material contrast.

Zarraoa, Laura; González, María U; Paulo, Álvaro San.

Afiliación

Zarraoa L; Instituto de Micro y Nanotecnología (IMN-CNM, CSIC), Isaac Newton 8, Tres Cantos, Spain.
González MU; Instituto de Micro y Nanotecnología (IMN-CNM, CSIC), Isaac Newton 8, Tres Cantos, Spain.
Paulo ÁS; Instituto de Micro y Nanotecnología (IMN-CNM, CSIC), Isaac Newton 8, Tres Cantos, Spain. alvaro.sanpaulo@csic.es.

Sci Rep ; 9(1): 16263, 2019 Nov 07.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-31700038

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Sci Rep Año: 2019 Tipo del documento: Article País de afiliación: España Pais de publicación: Reino Unido

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