Empirical model for the temperature dependence of silicon refractive index from O to C band based on waveguide measurements.
Opt Express
; 27(19): 27229-27241, 2019 Sep 16.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-31674588
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Opt Express
Asunto de la revista:
OFTALMOLOGIA
Año:
2019
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos