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Design for a high resolution electron energy loss microscope.
Mankos, Marian; Shadman, Khashayar; Hahn, Raphaël; Picard, Yan J; Comparat, Daniel; Fedchenko, Olena; Schönhense, Gerd; Amiaud, Lionel; Lafosse, Anne; Barrett, Nick.
Afiliación
  • Mankos M; Electron Optica Inc., 1000 Elwell Court Ste.110, Palo Alto, CA 94303, USA.
  • Shadman K; Electron Optica Inc., 1000 Elwell Court Ste.110, Palo Alto, CA 94303, USA.
  • Hahn R; Laboratoire Aimé Cotton, CNRS, Univ. Paris-Sud, ENS Paris Saclay, Université Paris-Saclay, Bât. 505, Orsay 91405, France.
  • Picard YJ; Laboratoire Aimé Cotton, CNRS, Univ. Paris-Sud, ENS Paris Saclay, Université Paris-Saclay, Bât. 505, Orsay 91405, France.
  • Comparat D; Laboratoire Aimé Cotton, CNRS, Univ. Paris-Sud, ENS Paris Saclay, Université Paris-Saclay, Bât. 505, Orsay 91405, France.
  • Fedchenko O; Johannes Gutenberg Universität Mainz, Inst. für Physik, Mainz 55128, Germany.
  • Schönhense G; Johannes Gutenberg Universität Mainz, Inst. für Physik, Mainz 55128, Germany.
  • Amiaud L; Institut des Sciences Moléculaires d'Orsay (ISMO), CNRS, Univ Paris-Sud, Université Paris-Saclay, Orsay F-91405, France.
  • Lafosse A; Institut des Sciences Moléculaires d'Orsay (ISMO), CNRS, Univ Paris-Sud, Université Paris-Saclay, Orsay F-91405, France.
  • Barrett N; SPEC, CEA, CNRS, Université Paris-Saclay, CEA Saclay, Gif-sur-Yvette Cedex 91191, France. Electronic address: nick.barrett@cea.fr.
Ultramicroscopy ; 207: 112848, 2019 Dec.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-31606484
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2019 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Países Bajos
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