Fabrication and characterization of Si1- x Ge x nanocrystals in as-grown and annealed structures: a comparative study.
Beilstein J Nanotechnol
; 10: 1873-1882, 2019.
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| ID: mdl-31598453
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Beilstein J Nanotechnol
Año:
2019
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Islandia
Pais de publicación:
Alemania