Non-contact in situ microwave material measurements for high temperature process monitoring. | Rev Sci Instrum;90(3): 034702, 2019 Mar. | MEDLINE

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Non-contact in situ microwave material measurements for high temperature process monitoring.

T Sivaprakasam, Balamurugan; Krishnamurthy, C V; Arunachalam, Kavitha.

Afiliación

T Sivaprakasam B; Department of Engineering Design, Indian Institute of Technology Madras, Chennai 600036, India.
Krishnamurthy CV; Department of Physics, Indian Institute of Technology Madras, Chennai 600036, India.
Arunachalam K; Department of Engineering Design, Indian Institute of Technology Madras, Chennai 600036, India.

Rev Sci Instrum ; 90(3): 034702, 2019 Mar.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-30927825

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2019 Tipo del documento: Article País de afiliación: India Pais de publicación: Estados Unidos

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