Quantitative Trait Loci Conditioning Resistance to Phaeosphaeria Leaf Spot of Maize Caused by Phaeosphaeria maydis. | Plant Dis;89(6): 571-574, 2005 Jun. | MEDLINE

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Quantitative Trait Loci Conditioning Resistance to Phaeosphaeria Leaf Spot of Maize Caused by Phaeosphaeria maydis.

Carson, M L; Stuber, C W; Senior, M L.

Afiliación

Carson ML; USDA-ARS, Cereal Disease Laboratory, St. Paul, MN 55108.
Stuber CW; USDA-ARS, Plant Science Research Unit, Raleigh, NC 27695.
Senior ML; USDA-ARS, Plant Science Research Unit, Raleigh, NC 27695.

Plant Dis ; 89(6): 571-574, 2005 Jun.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-30795380

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Plant Dis Año: 2005 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos

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