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High-Fidelity Depth Upsampling Using the Self-Learning Framework.
Shim, Inwook; Oh, Tae-Hyun; Kweon, In So.
Afiliación
  • Shim I; The Ground Autonomy Laboratory, Agency for Defense Development, Daejeon 34186, Korea. iwshim@add.re.kr.
  • Oh TH; Computer Science and Artificial Intelligence Laboratory, MIT, Cambridge, MA 02139, USA. taehyun@csail.mit.edu.
  • Kweon IS; Department of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea. iskweon@kaist.ac.kr.
Sensors (Basel) ; 19(1)2018 Dec 27.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-30591626

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Año: 2018 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Suiza

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Año: 2018 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Suiza