Invited Review Article: Multi-tip scanning tunneling microscopy: Experimental techniques and data analysis.

Voigtländer, Bert; Cherepanov, Vasily; Korte, Stefan; Leis, Arthur; Cuma, David; Just, Sven; Lüpke, Felix

Voigtländer, Bert; Cherepanov, Vasily; Korte, Stefan; Leis, Arthur; Cuma, David; Just, Sven; Lüpke, Felix.

Afiliación

Voigtländer B; Peter Grünberg Institut (PGI-3), Forschungszentrum Jülich and JARA-Fundamentals of Future Information Technology, 52425 Jülich, Germany.
Cherepanov V; Peter Grünberg Institut (PGI-3), Forschungszentrum Jülich and JARA-Fundamentals of Future Information Technology, 52425 Jülich, Germany.
Korte S; Peter Grünberg Institut (PGI-3), Forschungszentrum Jülich and JARA-Fundamentals of Future Information Technology, 52425 Jülich, Germany.
Leis A; Peter Grünberg Institut (PGI-3), Forschungszentrum Jülich and JARA-Fundamentals of Future Information Technology, 52425 Jülich, Germany.
Cuma D; Peter Grünberg Institut (PGI-3), Forschungszentrum Jülich and JARA-Fundamentals of Future Information Technology, 52425 Jülich, Germany.
Just S; Peter Grünberg Institut (PGI-3), Forschungszentrum Jülich and JARA-Fundamentals of Future Information Technology, 52425 Jülich, Germany.
Lüpke F; Peter Grünberg Institut (PGI-3), Forschungszentrum Jülich and JARA-Fundamentals of Future Information Technology, 52425 Jülich, Germany.

Rev Sci Instrum ; 89(10): 101101, 2018 Oct.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-30399776

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania Pais de publicación: Estados Unidos

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