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Visualizing a core-shell structure of heavily doped silicon quantum dots by electron microscopy using an atomically thin support film.
Sugimoto, Hiroshi; Yamamura, Masataka; Sakiyama, Makoto; Fujii, Minoru.
Afiliación
  • Sugimoto H; Department of Electrical and Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Kobe University, Rokkodai, Nada, Kobe 657-8501, Japan. sugimoto@eedept.kobe-u.ac.jp.
Nanoscale ; 10(16): 7357-7362, 2018 Apr 26.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29637958

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanoscale Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón Pais de publicación: Reino Unido

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanoscale Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón Pais de publicación: Reino Unido