Convergent-beam EMCD: benefits, pitfalls and applications.

Löffler, S; Hetaba, W

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Convergent-beam EMCD: benefits, pitfalls and applications.

Löffler, S; Hetaba, W.

Afiliación

Löffler S; University Service Centre for Transmission Electron Microscopy, TU Wien, Vienna, Austria.
Hetaba W; Department for Materials Science and Engineering, McMaster University, Hamilton, Ontario, Canada.

Microscopy (Oxf) ; 67(suppl_1): i60-i71, 2018 Mar 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29370394

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microscopy (Oxf) Año: 2018 Tipo del documento: Article País de afiliación: Austria Pais de publicación: Reino Unido