An Improved Pathological Brain Detection System Based on Two-Dimensional PCA and Evolutionary Extreme Learning Machine.

Nayak, Deepak Ranjan; Dash, Ratnakar; Majhi, Banshidhar

Nayak, Deepak Ranjan; Dash, Ratnakar; Majhi, Banshidhar.

Afiliación

Nayak DR; Pattern Recognition Lab, Department of Computer Science and Engineering, National Institute of Technology, Rourkela, 769 008, India. depakranjannayak@gmail.com.
Dash R; Pattern Recognition Lab, Department of Computer Science and Engineering, National Institute of Technology, Rourkela, 769 008, India.
Majhi B; Pattern Recognition Lab, Department of Computer Science and Engineering, National Institute of Technology, Rourkela, 769 008, India.

J Med Syst ; 42(1): 19, 2017 Dec 07.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29218420

Asunto(s)

Encéfalo/diagnóstico por imagen; Encéfalo/patología; Procesamiento de Imagen Asistido por Computador/métodos; Aprendizaje Automático; Imagen por Resonancia Magnética/métodos; Algoritmos; Humanos; Sensibilidad y Especificidad

Palabras clave

Extreme learning machine (ELM); Magnetic resonance imaging (MRI); Modified differential evolution (MDE); Pathological brain detection (PBD); Two-dimensional PCA (2DPCA)

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Procesamiento de Imagen Asistido por Computador / Encéfalo / Imagen por Resonancia Magnética / Aprendizaje Automático Tipo de estudio: Diagnostic_studies Límite: Humans Idioma: En Revista: J Med Syst Año: 2017 Tipo del documento: Article País de afiliación: India Pais de publicación: Estados Unidos

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