Probing Interface Defects in Top-Gated MoS2 Transistors with Impedance Spectroscopy.
ACS Appl Mater Interfaces
; 9(28): 24348-24356, 2017 Jul 19.
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| MEDLINE
| ID: mdl-28650155
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
ACS Appl Mater Interfaces
Asunto de la revista:
BIOTECNOLOGIA
/
ENGENHARIA BIOMEDICA
Año:
2017
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Estados Unidos
Pais de publicación:
Estados Unidos