Your browser doesn't support javascript.
loading
Defect Detection in Textures through the Use of Entropy as a Means for Automatically Selecting the Wavelet Decomposition Level.
Navarro, Pedro J; Fernández-Isla, Carlos; Alcover, Pedro María; Suardíaz, Juan.
Afiliación
  • Navarro PJ; División de Sistemas e Ingeniería Electrónica (DSIE), Universidad Politécnica de Cartagena, Campus Muralla del Mar, s/n, Cartagena E-30202, Spain. pedroj.navarro@upct.es.
  • Fernández-Isla C; División de Sistemas e Ingeniería Electrónica (DSIE), Universidad Politécnica de Cartagena, Campus Muralla del Mar, s/n, Cartagena E-30202, Spain. carlos.fernandez@upct.es.
  • Alcover PM; División de Sistemas e Ingeniería Electrónica (DSIE), Universidad Politécnica de Cartagena, Campus Muralla del Mar, s/n, Cartagena E-30202, Spain. pedro.alcover@upct.es.
  • Suardíaz J; División de Innovación en Sistemas Telemáticos y Tecnología Electrónica (DINTEL), Universidad Politécnica de Cartagena, Campus Muralla del Mar, s/n, Cartagena E-30202, Spain. juan.suardiaz@upct.es.
Sensors (Basel) ; 16(8)2016 Jul 27.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-27472343
Palabras clave
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: España Pais de publicación: Suiza
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: España Pais de publicación: Suiza