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Interlaboratory Comparison of Magnetic Thin Film Measurements.
da Silva, F C S; Wang, C M; Pappas, D P.
Afiliación
  • da Silva FC; National Institute of Standards and Technology, 325 Broadway, Boulder, CO 80305.
  • Wang CM; National Institute of Standards and Technology, 325 Broadway, Boulder, CO 80305.
  • Pappas DP; National Institute of Standards and Technology, 325 Broadway, Boulder, CO 80305.
J Res Natl Inst Stand Technol ; 108(2): 125-34, 2003.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-27413599

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Res Natl Inst Stand Technol Año: 2003 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Res Natl Inst Stand Technol Año: 2003 Tipo del documento: Article Pais de publicación: Estados Unidos