Defects at the Nanoscale Impact Contact Line Motion at all Scales.

Perrin, Hugo; Lhermerout, Romain; Davitt, Kristina; Rolley, Etienne; Andreotti, Bruno

Perrin, Hugo; Lhermerout, Romain; Davitt, Kristina; Rolley, Etienne; Andreotti, Bruno.

Afiliación

Perrin H; Physique et Mécanique des Milieux Hétérogènes, UMR 7636 ESPCI -CNRS, Université Paris-Diderot, 10 rue Vauquelin, 75005 Paris, France.
Lhermerout R; Laboratoire de Physique Statistique, Ecole Normale Supérieure, UPMC Université Paris 06, Université Paris Diderot, CNRS, 24 rue Lhomond, 75005 Paris, France.
Davitt K; Laboratoire de Physique Statistique, Ecole Normale Supérieure, UPMC Université Paris 06, Université Paris Diderot, CNRS, 24 rue Lhomond, 75005 Paris, France.
Rolley E; Laboratoire de Physique Statistique, Ecole Normale Supérieure, UPMC Université Paris 06, Université Paris Diderot, CNRS, 24 rue Lhomond, 75005 Paris, France.
Andreotti B; Physique et Mécanique des Milieux Hétérogènes, UMR 7636 ESPCI -CNRS, Université Paris-Diderot, 10 rue Vauquelin, 75005 Paris, France.

Phys Rev Lett ; 116(18): 184502, 2016 May 06.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-27203326

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia Pais de publicación: Estados Unidos

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google