Infrared dielectric properties of low-stress silicon oxide.
Opt Lett
; 41(7): 1364-7, 2016 Apr 01.
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en En
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| ID: mdl-27192237
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Opt Lett
Año:
2016
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos