Your browser doesn't support javascript.
loading
Interfacial Depletion Regions: Beyond the Space Charge Limit in Thick Bulk Heterojunctions.
Tait, Jeffrey G; Paetzold, Ulrich W; Cheyns, David; Turbiez, Mathieu; Heremans, Paul; Rand, Barry P.
Afiliación
  • Tait JG; IMEC , Kapeldreef 75, Leuven B-3001, Belgium.
  • Paetzold UW; Department of Electrical Engineering, KULeuven , Kasteelpark Arenberg 10, Leuven B-3001, Belgium.
  • Cheyns D; IMEC , Kapeldreef 75, Leuven B-3001, Belgium.
  • Turbiez M; IMEC , Kapeldreef 75, Leuven B-3001, Belgium.
  • Heremans P; BASF Schweiz AG , CH-4002 Basel, Switzerland.
  • Rand BP; IMEC , Kapeldreef 75, Leuven B-3001, Belgium.
ACS Appl Mater Interfaces ; 8(3): 2211-9, 2016 Jan 27.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26690662
Palabras clave
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: ACS Appl Mater Interfaces Asunto de la revista: BIOTECNOLOGIA / ENGENHARIA BIOMEDICA Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Bélgica Pais de publicación: Estados Unidos
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: ACS Appl Mater Interfaces Asunto de la revista: BIOTECNOLOGIA / ENGENHARIA BIOMEDICA Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Bélgica Pais de publicación: Estados Unidos