Investigation of Lithium Insertion Mechanisms of a Thin-Film Si Electrode by Coupling Time-of-Flight Secondary-Ion Mass Spectrometry, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Focused-Ion-Beam/SEM.

Bordes, Arnaud; De Vito, Eric; Haon, Cédric; Secouard, Christophe; Montani, Alexandre; Marcus, Philippe

Bordes, Arnaud; De Vito, Eric; Haon, Cédric; Secouard, Christophe; Montani, Alexandre; Marcus, Philippe.

Afiliación

Bordes A; CEA, LITEN , Minatec Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Grenoble, France.
De Vito E; Université Grenoble Alpes , F-38000, Grenoble, France.
Haon C; Groupe de Physico-Chimie des Surfaces, Institut de Recherche de Chimie Paris, CNRS-Chimie ParisTech , 75005 Paris, France.
Secouard C; CEA, LITEN , Minatec Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Grenoble, France.
Montani A; Université Grenoble Alpes , F-38000, Grenoble, France.
Marcus P; CEA, LITEN , Minatec Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Grenoble, France.

ACS Appl Mater Interfaces ; 7(50): 27853-62, 2015 Dec 23.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26618212

Palabras clave

Li-ion batteries; TOF-SIMS; XPS; negative electrode; silicon

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Appl Mater Interfaces Asunto de la revista: BIOTECNOLOGIA / ENGENHARIA BIOMEDICA Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia Pais de publicación: Estados Unidos

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