Big-data reflection high energy electron diffraction analysis for understanding epitaxial film growth processes. | ACS Nano;8(10): 10899-908, 2014 Oct 28. | MEDLINE

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Big-data reflection high energy electron diffraction analysis for understanding epitaxial film growth processes.

Vasudevan, Rama K; Tselev, Alexander; Baddorf, Arthur P; Kalinin, Sergei V.

Afiliación

Vasudevan RK; Center for Nanophase Materials Sciences and ORNL Institute for Functional Imaging of Materials, Oak Ridge National Laboratory , Oak Ridge, Tennessee 37831, United States.

ACS Nano ; 8(10): 10899-908, 2014 Oct 28.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25268549

Palabras clave

RHEED; big data; epitaxial film growth; multivariate statistics; oxides; surface diffraction

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Nano Año: 2014 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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