Defects in GaSe grown by Bridgman method. | J Microsc;256(3): 208-12, 2014 Dec. | MEDLINE

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Defects in GaSe grown by Bridgman method.

Kokh, K A; Atuchin, V V; Gavrilova, T A; Kozhukhov, A; Maximovskiy, E A; Pokrovsky, L D; Tsygankova, A R; Saprykin, A I.

Afiliación

Kokh KA; Sobolev Institute of Geology and Mineralogy, SB RAS, Novosibirsk, Russia; Novosibirsk State University, Novosibirsk, Russia; Siberian Physical-Technical Institute of Tomsk State University, Tomsk, Russia.

J Microsc ; 256(3): 208-12, 2014 Dec.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25182595

Palabras clave

AFM; GaSe; RHEED; SEM; crystal growth

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2014 Tipo del documento: Article País de afiliación: Rusia Pais de publicación: Reino Unido

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