Control theory for scanning probe microscopy revisited. | Beilstein J Nanotechnol;5: 337-45, 2014. | MEDLINE

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Control theory for scanning probe microscopy revisited.

Stirling, Julian.

Afiliación

Stirling J; School of Physics and Astronomy, The University of Nottingham, University Park, Nottingham, NG7 2RD, United Kingdom.

Beilstein J Nanotechnol ; 5: 337-45, 2014.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24778957

Palabras clave

AFM; control theory; feedback; scanning probe microscopy

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Beilstein J Nanotechnol Año: 2014 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido Pais de publicación: Alemania

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