X-ray reflectivity analysis of titanium dioxide thin films grown by cathodic arc deposition.
J Nanosci Nanotechnol
; 14(5): 3902-9, 2014 May.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-24734661
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Qualitative_research
Idioma:
En
Revista:
J Nanosci Nanotechnol
Año:
2014
Tipo del documento:
Article
Pais de publicación:
Estados Unidos