Simulated annealing-simplex hybrid algorithm for ellipsometric data inversion of multilayer films.
Rev Sci Instrum
; 84(6): 063103, 2013 Jun.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-23822329
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Rev Sci Instrum
Año:
2013
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
China
Pais de publicación:
Estados Unidos