Measurement of indium concentration profiles and segregation efficiencies from high-angle annular dark field-scanning transmission electron microscopy images.
Ultramicroscopy
; 131: 1-9, 2013 Aug.
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| ID: mdl-23666109
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Ultramicroscopy
Año:
2013
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Alemania
Pais de publicación:
Países Bajos