Angle-resolved XPS analysis and characterization of monolayer and multilayer silane films for DNA coupling to silica.

Shircliff, Rebecca A; Stradins, Paul; Moutinho, Helio; Fennell, John; Ghirardi, Maria L; Cowley, Scott W; Branz, Howard M; Martin, Ina T

Shircliff, Rebecca A; Stradins, Paul; Moutinho, Helio; Fennell, John; Ghirardi, Maria L; Cowley, Scott W; Branz, Howard M; Martin, Ina T.

Afiliación

Shircliff RA; Chemistry and Geochemistry Department, Colorado School of Mines, Golden, Colorado 80401, United States.

Langmuir ; 29(12): 4057-67, 2013 Mar 26.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23445373

Asunto(s)

ADN/química; Propilaminas/química; Silanos/química; Dióxido de Silicio/química; Reactivos de Enlaces Cruzados/química; ADN/síntesis química; Microscopía de Fuerza Atómica; Hibridación de Ácido Nucleico; Radioisótopos de Fósforo; Espectroscopía de Fotoelectrones; Radiometría; Succinimidas/química; Propiedades de Superficie; Agua

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Propilaminas / Silanos / ADN / Dióxido de Silicio Idioma: En Revista: Langmuir Asunto de la revista: QUIMICA Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos Pais de publicación: Estados Unidos

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